Головна Спрощенний режим Опис
Авторизація
Прізвище
Пароль
 

Бази даних


Картотека аналітичного опису періодичних видань- результати пошуку

Вид пошуку

Зона пошуку
Формат представлення знайдених документів:
повнийінформаційнийкороткий
Пошуковий запит: <.>K=навчальні параметри<.>
Загальна кількість знайдених документів : 1
1.


    Сікорський, Петро.
    Нові підходи до моделювання контрольно-оцінювальних систем в освіті [Текст] / Петро Сікорський // Вища освіта України. - 2018. - № 2. - С. 48-56. - Бібліогр.: 7 назв.
РУБ CUKK-VDPU
Рубрики: Освіта--Методологія
   Педагогіка--Перевірка і оцінка знань

Кл.слова (ненормовані):
педагогічна закономірність -- контрольно-оцінювальна система -- освітній процес -- модель -- навчальні параметри -- оцінка -- критерії оцінювання
Анотація: У статті обґрунтовуються педагогічні закономірності моделювання різних контрольно-оцінювальних систем, взаємозв'язок між навчальним та оцінювальним контролем; розглядаються різні види оцінювання: безпосереднє та опосередковане, представляється описова опосередковано-модульно-когнітивна модель системи оцінювання учнів з математики, які навчаються за математичним профілем.

Замовлені прим-ки для відділів: ЧЗПЕРІОД

Знайти схожі

 
© Міжнародна Асоціація користувачів і розробників електронних бібліотек і нових інформаційних технологій
(Асоціація ЕБНІТ)