Головна Спрощенний режим Опис
Авторизація
Прізвище
Пароль
 

Бази даних


Картотека аналітичного опису періодичних видань- результати пошуку

Вид пошуку

Зона пошуку
Формат представлення знайдених документів:
повнийінформаційнийкороткий
Відсортувати знайдені документи за:
авторомназвоюроком виданнятипом документа
Пошуковий запит: <.>S=Фізика -- Фізична природа матерії -- Властивості та структура молекулярних систем -- Дефекти та домішки<.>
Загальна кількість знайдених документів : 6
Показані документи с 1 за 6
1.
538.9
К 637


   
    Комп'ютерне моделювання структурних пошкоджень у монокристалах фосфіду галію [Текст] / І. М. Вишневський [та ін.] // Доповіді Національної академії наук України. - 2012. - № 3. - С. 92-98. - Бібліогр. в кінці ст.
УДК
Рубрики: Фізика--Фізика конденсованої матерії--Процеси переносу--Електронні процеси переносу
   Фізика--Фізична природа матерії--Властивості та структура молекулярних систем--Дефекти та домішки

Кл.слова (ненормовані):
Дефект -- Дефект Шоткі -- Пара Френеля -- Атом проникнення -- Вакансія -- Дивакансія -- Енергія утворення
Анотація: Застосовано метод молекулярної динаміки для визначення основних параметрів, що характеризують радіаційні пошкодження у кристалах фосфіду галію: порогової енергії утворення дефекту, енергії утворення вакансії, дивакансії, вакансійних пустот, атомів проникнення та антиструктурних дефектів.


Дод.точки доступу:
Вишневський, І. М.; Гонтарук, О. М.; Конорева, О. В.; Литовченко, П. Г.; Манжара, В. С.; Пінковська, М. Б.; Тартачник, В. П.

Знайти схожі

2.
539.219
О-261


   
    Обумовлені дією рентгенівського випромінювання та магнітного поля особливості динамічної поведінки дислокацій у кристалах кремнію [Текст] / В. А. Макара [та ін.] // Доповіді Національної академії наук України. - 2012. - № 4. - С. 71-74. - Бібліогр. в кінці ст.
УДК
Рубрики: Фізика--Фізична природа матерії--Властивості та структура молекулярних систем--Дефекти та домішки
Кл.слова (ненормовані):
Релаксація структурна -- Мікропластичність -- Дефект радіаційний
Анотація: Виявлено особливості в динамічній поведінці дислокацій, які проявляються при самостійній дії рентгенівського випромінювання, а також при комбінованому впливі на кристал кремнію.


Дод.точки доступу:
Макара, В. А.; Стебленко, Л. П.; Кріт, О. М.; Калініченко, Д. В.; Курилюк, А. М.; Науменко, С. М.

Знайти схожі

3.


   
    Вплив молекулярної маси на властивості поліетиленгліколей, допованих багатошаровими вуглецевими нанотрубками [Текст] / Л. А. Булавін, І. А. Мельник, А. І. Гончарук [та ін.] // Доповіді Національної академії наук України. - 2015. - № 8. - С. 72-78. - Бібліогр. в кінці ст.
Рубрики: Фізика--Фізична природа матерії--Властивості та структура молекулярних систем--Дефекти та домішки
   Нанокластерні та нанокристалічні матеріали--Наноструктури

   Хімічна технологія--Полімерні матеріали

Кл.слова (ненормовані):
Електропровідність -- Ступінь кристалічності -- Властивості теплофізичні
Анотація: Методом диференційної скануючої калориметрії та дослідженням електричної провідності вивчено вплив допування багатошаровим вуглецевими нанотрубками на властивості поліетиленгліколей різних молекулярних мас. Досліджено залежності ступеня кристалічності полімерів, а також температурну поведінку електропровідності при різних концентраціях.


Дод.точки доступу:
Булавін, Л. А.; Мельник, І. А.; Гончарук, А. І.; Клепко, В. В.; Лебовка, М. І.; Лисенков, Е. А.

Знайти схожі

4.


    Горкавенко, Т. В.
    Першопринципний розрахунок рівноважного положення та електронних спектрів домішок кисню і вуглецю в кремнії [Текст] / Т. В. Горкавенко, І. В. Плющай, В. А. Макара // Доповіді Національної академії наук України. - 2016. - № 6. - С. 65-71. - Бібліогр. в кінці ст.
Рубрики: Фізика--Фізична природа матерії--Властивості та структура молекулярних систем--Дефекти та домішки
   Фізика--Фізика конденсованої матерії--Структури й перетворення--Електронні стани та електронні структури

   Напівпровідники--Електронні напівпровідники--Дефекти

Кл.слова (ненормовані):
Дефект точковий -- Надкомірка -- Кристал
Анотація: Проведено ab initio розрахунок рівноважного положення домішкових атомів кисню та вуглецю в нанокомірці з 64 атомів кремнію методом функціонала густини в узагальненому градієнтному наближенні за допомогою пакета програм ABINIT.


Дод.точки доступу:
Плющай, І. В.; Макара, В. А.

Знайти схожі

5.


    Хорошун, Л. П.
    Эффективные упругие свойства зернистых стохастических композитов при несовершенной адгезии [Текст] / Л. П. Хорошун, О. И. Левчук // Доповіді Національної академії наук України. - 2017. - № 12. - С. 33-44. - Библиогр. в конце ст.
Рубрики: Фізика--Фізична природа матерії--Пружність і деформація
   Фізика--Фізична природа матерії--Властивості та структура молекулярних систем--Дефекти та домішки

Кл.слова (ненормовані):
Слой -- Адгезия -- Сцепление -- Смачивание -- Матрица -- Включения -- Армирование
Анотація: Досліджено ефективні пружні властивості трикомпонентного композитного матеріалу, що складається з матриці, вкючень і міжфазних пористих шарів. Побудовано криві залежностей ефективних модулів об'ємного стиску і зсуву від об'ємного вмісту включень і пористості міжфазних шарів.


Дод.точки доступу:
Левчук, О. И.

Знайти схожі

6.


    Гайдар, Г. П.
    Ефекти впорядкування дефектної структури n-Si, індуковані великими флюенсами іонів МеВ-них енергій [Текст] / Г. П. Гайдар, М. Б. Пінковська, М. І. Старчик // Доповіді Національної академії наук України. - 2021. - № 1. - С. 39-50. - Бібліогр. в кінці ст.
Рубрики: Фізика--Фізична природа матерії--Властивості та структура молекулярних систем--Дефекти та домішки
Кл.слова (ненормовані):
Смуга гальмування -- Структура дефективна -- Дефект пакування -- Радіаційний дефект -- Іонно-променева модифікація -- Модифікований кремній
Анотація: Виявлено, що опромінення дислокаційного кремнію іонами дейтерію призводить до руху дислокацій у процесі опромінення та до перетину ними лінії гальмування дейтронів унаслідок утворення дефектів пакування.


Дод.точки доступу:
Пінковська, М. Б.; Старчик, М. І.

Знайти схожі

 
© Міжнародна Асоціація користувачів і розробників електронних бібліотек і нових інформаційних технологій
(Асоціація ЕБНІТ)