Головна Спрощенний режим Опис
Авторизація
Прізвище
Пароль
 

Бази даних


Генеральний каталог ЧОУНБ- результати пошуку

Вид пошуку
Генеральний каталог ЧОУНБ
Картотека аналітичного опису періодичних видань
Каталог журналів
Каталог газет
Буковина
Бібліотека П.В.Рихла
Бібліотека М.М.Фатова
Бібліотека О.М.Масана
Бібліотека О.С.Романця
Бібліотека Т.В.Покотило
Бібліотека В.І.Михайловсього
Шевченко Т. Г.
Хотинська бібліотека
Нотна бібліотека Й.М.Ельгісера
Бібліотека Д.М.Гнатюка
Бібліотека В.Д.Бялика
Бібліотека Т.П.Смолдиревої
Бібліотека І.Г.Чеховського
Бібліотека Я.Д.Кіршенблата
Зона пошуку
Формат представлення знайдених документів:
повний інформаційнийкороткий
Пошуковий запит: <.>S=Напівпровідники -- Оптика -- Радіоелектроніка<.>
Загальна кількість знайдених документів : 1
1.

Форма документа : Однотомне видання
Шифр видання : 22.379.24 /Х-76-252998
Автор(и) : Хомяк В.В.
Назва : Фізичні основи еліпсометрії : Навч. посібник
Вихідні дані : Чернівці: Рута, 2004
Кільк.характеристики :84 с
Колективи : ЧНУ ім.Ю.Федьковича
ISBN, Ціна 966-568-680-1: 5.00 грн.
ББК : 22.379.24 + 22.379.24я73 + 32.844.1я73 + 32.96-042я73
Предметні рубрики: Напівпровідники-- Оптика-- Радіоелектроніка
Анотація: У посібнику викладено основи методу еліпсометрії, проаналізовані методика, способи математичної обробки результатів і основні помилки еліпсометричних вимірювань, описані найбільш розповсюджені схеми еліпсометрів. Для студентів і аспірантів інженерно-технічних спеціальностей вузів, а також фахівців з фізики, технології та конструювання напівпровідникових приладів.
Примірники : всього : ВЗОФ(1), АБ(1)
Вільні : ВЗОФ(1), АБ(1)
Знайти схожі
 
Стандартний
Розширений
Професійний
Розподілений
За словником
ДРНТІ-навігатор
УДК-навігатор
ББК-навігатор
Тематичний навігатор
© Міжнародна Асоціація користувачів і розробників електронних бібліотек і нових інформаційних технологій
(Асоціація ЕБНІТ)